GTEM小室(Gigahertz Transverse Electromagnetic)是一種用于測試電磁兼容性(EMC)的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，主要用于模擬電子產(chǎn)品在EMC環(huán)境下運(yùn)行時(shí)受到的電磁波影響。它的外形類似于一個(gè)長方體，使用鋼材或鋁材制成。其內(nèi)部為傳輸線結(jié)構(gòu)，由導(dǎo)體上開槽并排列在一條直線上的金屬側(cè)板和中心導(dǎo)體組成，這些導(dǎo)體像是一個(gè)巨大的傳輸線，在隔離室中形成強(qiáng)烈的聚焦電場和磁場，并能夠在其頻率范圍內(nèi)的任意位置保持均勻場強(qiáng)度和相位。還結(jié)合了天線、功率放大器、信號(hào)源、輻射控制等功能，實(shí)現(xiàn)了對測量過程的自動(dòng)化控制。它的工作原理可以分為兩個(gè)階段：空腔(不加樣品)調(diào)諧和加入樣品后電磁波儲(chǔ)存。
 

　　在空腔調(diào)諧階段，一定功率、頻率和極化的微波信號(hào)從頂部輸入至GTEM小室中，并通過引出器注入小室的正交電荷平面(E-plane)和磁場平面(H-plane)，使得微波能量在小室內(nèi)部傳播。此時(shí)小室內(nèi)會(huì)有兩種高頻駐波以不同的相位在儲(chǔ)存，每個(gè)駐波場具有E和H平面上的電磁能量矢量，這時(shí)需要通過調(diào)節(jié)上方的短路板、加載板等，使得GTEM小室內(nèi)的電磁場在所需頻率范圍內(nèi)均勻分布。
 

　　樣品加入后，放置于GTEM傳輸線中的樣品會(huì)反映出測試信號(hào)。這些反射信號(hào)會(huì)出現(xiàn)增益或損失，并對原有通行的電磁波繼續(xù)進(jìn)行干擾與加工處理。 這樣，就可以通過吸收和反射來模擬不同環(huán)境下的EMC場景，檢測被測試設(shè)備受到這些場景的電磁波之后，是否存在干擾或損害。

 

　　GTEM小室的作用：
 

　　1.實(shí)現(xiàn)EMI/EMC檢測：利用小室內(nèi)的空間形成的穩(wěn)定和受控測試環(huán)境，測試設(shè)備可以被消除周圍非結(jié)構(gòu)化電磁場的影響；
 

　　2.進(jìn)行增益衰減測試：衡量特定元件或系統(tǒng)在給定頻率下的性能參數(shù)，如增益、插入損失等；
 

　　3.開展輻射/感應(yīng)度測試：這對于評估該設(shè)備在工作時(shí)是否會(huì)發(fā)生干擾或容易被干擾都是至關(guān)重要的。